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1.透反射
透射/反射光譜是材料本身的一項(xiàng)重要光學(xué)特性,在現(xiàn)今工業(yè)蓬勃發(fā)展的背景下,對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制越來(lái)越嚴(yán)格,從而利用光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的反射光譜/透射光譜的測(cè)量技術(shù)也開(kāi)始日漸成熟。
1.1原理知識(shí)
在透過(guò)率測(cè)量時(shí),象素n上的透過(guò)率是用當(dāng)前樣品、參考和背景數(shù)據(jù)按下面方程計(jì)算出來(lái)的:
式中T-----------透過(guò)率
Sample-----------樣品透過(guò)強(qiáng)度值
Ref------------參考樣片透過(guò)強(qiáng)度
Dark-----------背景數(shù)據(jù)
透過(guò)率的百分比在數(shù)學(xué)上與反射率是一樣的,所以同樣可以用于反射實(shí)驗(yàn),反射測(cè)試中ref為參考板反射強(qiáng)度(如果需要測(cè)量絕dui對(duì)反射率值,需要在式中乘以系數(shù)C,C為參考反射板在每個(gè)波長(zhǎng)的絕dui對(duì)反射率值)。
2.應(yīng)用背景
透射/反射光譜儀系統(tǒng)具有測(cè)量快速,準(zhǔn)確,方便集成等優(yōu)點(diǎn),目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用到實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)、產(chǎn)品在線測(cè)試等應(yīng)用。目前的主要應(yīng)用在:
高分子材料反射/透射測(cè)試
建筑玻璃 反射/透射測(cè)試
在線 反射/透射測(cè)試
光伏壓花玻璃 透射測(cè)試
干涉濾光片 透射測(cè)試
薄膜樣品 反射/透射測(cè)試
各種晶體、塑料、紡織品等反射測(cè)試
平板、LCD、背光板、手機(jī)/平板油墨孔等透射測(cè)量?
3.反射測(cè)量及常用配置
3.1反射率測(cè)量(光纖反射探頭)
光譜反射測(cè)量的基本原理是利用光纖將光源輸送到物體的表面,再將材料的光譜反射數(shù)據(jù)傳到光纖光譜儀上,由軟件將其顯示,并對(duì)其進(jìn)行分析,從而可以對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行鑒定。在測(cè)量時(shí),將一面與基準(zhǔn)光路呈一定角度的標(biāo)準(zhǔn)反射器置于測(cè)量光路上,并以其反射光譜為參照。當(dāng)暗光譜和參考光譜都收集完畢后,可以將被測(cè)量的樣品替換為標(biāo)準(zhǔn)的反射板,進(jìn)行后續(xù)實(shí)驗(yàn)的測(cè)試。
圖3-1 反射率測(cè)量(探頭)連接示意圖
使用萊森光學(xué)的iSpec-TMS100-IND光譜系統(tǒng)反射率測(cè)量,一般采用反射積分球測(cè)量光路,反射積分球內(nèi)表面是完美的漫射體,具有非常均勻的空間反射特性,反射光在內(nèi)表面經(jīng)過(guò)多次反射后變得十分均勻,而且光強(qiáng)隨之衰減;具有測(cè)量穩(wěn)定,重復(fù)性好,結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
3.2反射率測(cè)量(積分球)
對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行反射率光譜測(cè)量,一般使用鹵鎢燈作為照明光源,本文實(shí)驗(yàn)中光源采用萊森光學(xué)的氘鹵組合光源,利用光譜儀配合反射積分球進(jìn)行測(cè)量,是由于積分球內(nèi)部表面是一個(gè)完全的漫射體,其空間的反射性質(zhì)十分均勻,反射的光線在內(nèi)部被反射后會(huì)變得很均勻,并且強(qiáng)度會(huì)隨著反射次數(shù)增多而減弱;具有測(cè)量穩(wěn)定,重復(fù)性好,結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。下圖為用積分球測(cè)全反射率的光路示意圖。
圖3-2反射率光路示意圖
圖3-3iSpec-TMS-IND光譜透射/反射率測(cè)量系統(tǒng)
使用萊森光學(xué)的iSpec-TMS100-IND光譜系統(tǒng)反射率測(cè)量,一般采用反射積分球測(cè)量光路,反射積分球內(nèi)表面是完美的漫射體,具有非常均勻的空間反射特性,反射光在內(nèi)表面經(jīng)過(guò)多次反射后變得十分均勻,而且光強(qiáng)隨之衰減;具有測(cè)量穩(wěn)定,重復(fù)性好,結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
4.實(shí)驗(yàn)
4.1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>
測(cè)試樣品反射率。(反射率光譜范圍:400nm-1100nm)
4.2實(shí)驗(yàn)儀器列表
儀器/設(shè)備名稱(chēng) | 型號(hào)&序列號(hào) | 配置明細(xì) |
光源 | 高功率鹵素?zé)?/p> | |
光譜儀 | LiSpec-UV200Pro | |
光纖 | UV600 | |
光學(xué)支架 |
4.3實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
在暗室環(huán)境,按圖搭建光路,光路不變得條件下,僅更換測(cè)試樣品的不同測(cè)試位置,測(cè)試樣品的不同測(cè)試位置光譜范圍在400nm-1000nm的透過(guò)率。
反射率測(cè)試實(shí)驗(yàn)實(shí)際光路圖
反射率測(cè)試實(shí)驗(yàn)實(shí)際光路圖
4.4實(shí)驗(yàn)結(jié)果